Over dit onderdeel
Beschrijving
- IC-testmodule voor aanraking, ontworpen om storingen in het aanraaksignaal op te sporen bij de iPhone 12 mini en 12 Pro Max
- Ondersteunt snelle detectie van afwijkingen in aanraakdata, communicatie en besturingslijnen
- Beoordeelt nauwkeurig de werking van de aanraak-IC en bijbehorende circuits
- Ideaal voor het diagnosticeren van een niet-reagerend aanraakscherm, ghost touches en haperende problemen met het paneel
- Ontworpen voor gebruik met de programmer en het testsysteem JCID V1S Pro
- Duurzame module, geschikt voor professionele reparatieworkflows op boardniveau
Compatibel met:
Nieuw onderdeel. We verzenden het naar de hele EU: het vertrekt binnen 1–2 werkdagen. Heb je het onderdeel niet geïnstalleerd of gebruikt, dan heb je 14 dagen om het te retourneren; accu's, schermen, controllers en displays die al zijn aangesloten kunnen niet worden geretourneerd, behalve bij een gebrek.
