JCID V1S Pro Touch IC Testing moduł do iPhone 16 Series

O tej części

Opis

• Moduł testowy IC dotyku do precyzyjnego wykrywania usterek sygnału dotyku na płytach głównych serii iPhone 16
• Wykrywa problemy w liniach komunikacji dotykowej, kanałach danych i obwodach sterujących
• Pomaga diagnozować brak reakcji dotyku, dotyk fantomowy (ghost touch) i sporadyczne działanie dotyku
• Zaprojektowany do bezproblemowej pracy z programatorem i platformą diagnostyczną JCID V1S Pro
• Trwały, precyzyjny moduł nadający się do codziennej profesjonalnej pracy naprawczej na poziomie płyty
• Idealny do zaawansowanej diagnostyki usterek wyświetlacza i układu IC dotyku w gamie iPhone 16

Kompatybilny z:

Nowa część. Wysyłamy ją do całej UE: wychodzi w ciągu 1–2 dni roboczych. Jeśli część nie została zamontowana ani użyta, masz 14 dni na jej zwrot; baterii, wyświetlaczy, sterowników i paneli z wyświetlaczem, które zostały już podłączone, nie można zwrócić, chyba że są wadliwe.