Over dit onderdeel
Beschrijving
- IC-testmodule voor aanraking, ontworpen voor nauwkeurige detectie van storingen in het aanraaksignaal op moederborden van de iPhone 16-serie
- Identificeert problemen in de aanraakcommunicatielijnen, datakanalen en besturingscircuits
- Helpt bij het diagnosticeren van een niet-reagerend aanraakscherm, ghost touches en haperende aanraking
- Ontworpen voor naadloos gebruik met de programmer en het diagnoseplatform JCID V1S Pro
- Duurzame precisiemodule, geschikt voor dagelijks professioneel reparatiewerk op boardniveau
- Ideaal voor het oplossen van geavanceerde storingen aan het scherm en de aanraak-IC in het iPhone 16-assortiment
Compatibel met:
Nieuw onderdeel. We verzenden het naar de hele EU: het vertrekt binnen 1–2 werkdagen. Heb je het onderdeel niet geïnstalleerd of gebruikt, dan heb je 14 dagen om het te retourneren; accu's, schermen, controllers en displays die al zijn aangesloten kunnen niet worden geretourneerd, behalve bij een gebrek.
